安藤AQ6317C的是一种先进的广泛应用，

AQ6317C是先进的光谱分析仪 适用于光学仪器中的光源测试、波长损耗特性的测量以及WDM系统的波形分析。

特别对于C波段和l波段，该装置有很高的波长精度和波长线性特性，并且能对用于WDM的光学仪器进行测评。装置所提供的分析功能使操作和扩充变得简单。与以前的型号相比，AQ6317C的波长精度已提高到±20pm，并且该指标值也是L波段的公称值。WDM的分析功能和凹口宽度的分析功能已得到进一步改善，并新增加了多通道NF分析功能和光滤波器的分析功能。加上在其它方面的改进例如扫描的加速，该装置非常容易操作和使用。

AQ6317C包含了Ando关于光谱分析仪的新技术-是下一代测试的参考设备。

AQ6317C包含了Ando关于光谱分析仪的新技术-是下一代测试的参考设备。

特点：

1、 高波长精度

在600至1750nm全波长范围内，精度可达±0.1nm，在1520-1580nm范围内，精度高达±0.02nm，在1450到1520nm、1580-1620nm范围，精度高达±0.04nm。特别适用于WDM器件的高精度波长损耗特性测量。

2、 高波长线性度

±0.01nm（C波段）；±0.02nm（S及L波段）

3、 高波长分辨率

波长分辨率可达15pm甚至更好。

图1 DFB激光光谱的测量举例

4、 适用50GHz WDM信号的宽动态范围

在峰值±0.4nm时的动态范围为70dB，在峰值为±0.2nm时的动态范围为60dB。

对于50GHz WDM系统在宽动态范围内可进行高精度测量。

图2动态范围内进行测量的例子

5、 更快的测量速度

在高精度测量时，比以前型号的测量速度加快2倍以上。

6、 多种分析功能

对WDM以及其它光学设备（LD，LED，FBG等）的分析功能、可编程功能，光放大器噪声分析功能、曲线拟合功能、多信道噪声分析的SSE抑制功能。另外，还增加了模板用于生产质量测试的检验功能，外部气体吸光设备校正波长功能。

7、 同步扫描

与一个AQ4321A/D可调谐光源连接，通过高速同步扫描（高速度：10nm/秒）可达到更高波长分辨率和更宽的动态范围。

8、 宽带宽、高灵敏度和大功率测量

-90至+20dBm（1200to1600nm）

波长范围：600~1700nm

高波长精度：±0.01nm

高波长分辨率：0.02nm

大动态范围：78dB(典型值)

宽功率量程：+20~-90dBm

快速测量：0.2秒(100nm跨度)

适用于单模和多模光纤

标准版和高性能版

AQ6370D共有2种机型，分别是标准版和高性能版。高性能版可以提供的波长精度更高、动态范围更大。

高波长分辨率： 0.02nm

高性能版：±0.01nm(C波段)

标准版：±0.02nm(C+L波段)

波长范围标准版(-10)高性能版(-20)

1520~1580nm

1580~1620nm

1450~1520nm

全范围±0.02 nm